水冷的快速溫變濕熱試驗箱LQ-KS3-512-東莞市柳沁檢測儀器有限公司

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水冷的快速溫變濕熱試驗箱

更新時間：2024-11-13
型號：LQ-KS3-512
訪問次數(shù)：843

水冷的快速溫變濕熱試驗箱廣泛應(yīng)用于：芯片，微電子器件，集成電路、閃存Flash、傳感器、小型模塊組件光通訊、航空航天新材料等性能分析、高低溫溫變測試、失效分析等可靠性試驗。

詳細內(nèi)容

品牌	其他品牌	產(chǎn)地類別	國產(chǎn)
內(nèi)尺寸	800800800	溫度范圍	-50~＋150℃
溫變范圍	-40~＋80℃	控溫方式	水冷

水冷的快速溫變濕熱試驗箱 廣泛應(yīng)用于：芯片，微電子器件，集成電路、閃存Flash、傳感器、小型模塊組件光通訊、航空航天新材料等性能分析、高低溫溫變測試、失效分析等可靠性試驗。

1000L新恒溫恒濕箱500.jpg

快速溫變試驗是用來確定產(chǎn)品在高溫、低溫快速或緩慢變化的氣候環(huán)境下的存儲、運輸、使用的適應(yīng)性。試驗過程是以常溫→低溫→低溫停留→高溫→高溫停留→常溫作為一個循環(huán)，溫度循環(huán)試驗的嚴苛程度是以高(低溫度范圍、停留時間以及循環(huán)數(shù)來決定。

水冷的快速溫變濕熱試驗箱 的測試方法：

GB/T 10589- 2008低溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T 10592- 2008高低溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2- 1低溫試驗方法

GB/T 2423.2- 2008/IEC 60068- 2-2高溫試驗方法

GB/T 2423.3- 2008/IEC 60068- 2-78 恒定濕熱試驗方法

GB/T 2423.4- -2008/IEC 60068 2- 30交變濕熱試驗方法

GB/T 2423.22- 2008/IEC 60068- 2- 14溫度變化速率試驗方法

GJB 150.3A- 2009高溫試驗方法

GJB 150.4A-2009低溫試驗方法

GJB 150.9A-2009濕熱試驗方法

GB/T 5170.2- 2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備